[No...] Posted October 25, 2024 Share Posted October 25, 2024 (edited) Wie geht man eigentlich in GOM mit einer SIM-Anforderung bei mehreren Flächenprofilen mit unterschiedlicher Toleranz um? Konkret geht es um mehrere Symbole, die als "Löcher" in einem Gehäuse ausgeführt sind, wo später ein Lichtleiter-Bauteil eingesetzt wird, das eben in alle Symbole gleichzeitig passen soll. Jedes Symbol ist mit einer unterschiedlichen Flächenprofiltoleranz bemaßt, aber alle haben dasselbe SIM. Die Symbole werden als Patch-Verbände gemessen. Wie setze ich hier die SIM-Bedingung um? Edited October 25, 2024 Link to comment Share on other sites More sharing options...
[Ch...] Posted October 28, 2024 Share Posted October 28, 2024 Leider gibt es im Moment keine direkte Unterstützung der SIM-Bedingung in der ZEISS Inspect Software. Ob es die Möglichkeit gibt Workarounds zu benutzen und wie stark die sich dem gewünschten Ergebnis annähern hängt halt stark vom speziellen Einzelfall ab. Natürlich ist uns bewusst, dass dies ein wichtiges Feature ist und daher ist es auf unserer Prioritätenliste relativ weit oben, allerdings können wir noch nicht sagen zu welcher Version wir es realisieren können. Link to comment Share on other sites More sharing options...
[No...] Posted October 28, 2024 Author Share Posted October 28, 2024 (edited) Zu wissen, daß es (noch) nicht geht, ist ja auch schon mal eine wertvolle Info. 🙂 Edited October 28, 2024 Link to comment Share on other sites More sharing options...
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